電阻測試儀/電阻檢測儀  型號:DP-WSP-30
DP-WSP-30是種度寬量程、采用性能微處理器控制的電阻測試儀。可以測試1μΩ～20MΩ的電阻，zui大顯示30,000數(shù)。速測試60次/秒，測試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%±2字的準確度。它的三種電流測試模式（大電流、小電流、脈沖測試模式）可以適應不同要求的測試。
規(guī)格
 基本準確度：0.05%
 溫度準確度：0.2℃
 十量程自動或手動測試。
 1μΩ ～ 20MΩ測試范圍。
 溫度范圍：0℃～80℃
 VFD顯示：30,000讀數(shù)。
 速測試：60次/秒，15次/秒，3次/秒
 大電流、小電流、脈沖測試模式。
性能特征
 亮度，清晰四色VFD顯示。
 雙顯示：ΔABS/Δ%/分選結果同時顯示。
 校正能：量程短路清零能 。
 器（分選）能：內(nèi)置30組器，HI/IN/LOW/GD/NG分選結果顯示和輸出。
 熱電勢補償能。
 溫度補償能。
 干電流測試能（開路電壓<20mV）。
 四端測試
 內(nèi)置RS232接口和Handler接口。
 可選GPIB接口。
 訊響和顯示可調(diào)。
 內(nèi)/手動/外/遠程觸發(fā)。
 兼容SCPI令集。
 鍵盤鎖定能。
 數(shù)據(jù)保持能。
應用
 測量各種、中、低值電阻器
 各種開關接觸電阻
 漆包線電阻
 接插件接觸電阻
 繼電器線包和觸點電阻
 變壓器、電感器、電機、偏轉線圈繞線電阻
 焊點接觸電阻
 導線電阻
 車、船、飛機的金屬鉚接電阻
 印制版線條和孔化電阻
 表征機電元件的低阻特性
 金屬探傷等